当社は、レーザー応用計測技術を基盤に、1996年3月の設立より、半導体材料など、さまざまな最先端材料やデバイスの評価装置の開発に取り組んでまいりました。フォトルミネッセンス測定装置からラマン分光装置、光学測定用プローバー、過渡吸収測定装置、光熱変位測定装置、サーマルルミネッセンス測定装置など、研究開発現場で求められる特殊な評価装置の開発・提供を行ってまいりました。長年にわたる技術蓄積とノウハウを活かし、最先端の研究分野における多様なニーズに応える製品のご提供を通じて科学技術の発展に貢献してまいります。 |
