レーザーダイオードテストシステム MLDTS-10N-1A |  
    
    
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        本システムは、ウエハーから個別に切り出されたレーザーダイオードバー、及び、CANパッケージ型レーザーダイオードの性能評価に特化した測定装置です。主に、電流−電圧特性(I-V特性)や光出力特性(I-L特性)、さらには発光スペクトルといった電気的・光学的なパラメータを高精度に測定することができます。本装置は最大1アンペアの大電流を、最小50ナノ秒という極めて短いパルスで印加可能であり、これによりデバイスの発熱を抑制しながらの評価が可能です。熱の影響を最小限に抑えることで、素子本来の特性を正確に測定することができ、開発初期段階やデバイス比較検証などに有効です。
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  ■測定項目 | 
  
    
      
        | 項目 | 
        内容 | 
       
      
        | 波形取得 | 
        駆動電流波形、光出力波形、出力電圧波形(※ナローパルス駆動時のみ) | 
       
      
        | グラフ | 
        
          駆動電流 - 光出力特性(I-L)グラフ、 
          駆動電流 - 出力電圧特性(I-V)グラフ、 
          温度特性グラフ
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        | データ | 
        
          しきい値電流(Ith)、スロープ効率(SE)、 
          指定光出力(Pop)時の駆動電流値(Iop)、出力電圧値(Vop)、 
          指定駆動電流(If)時の光出力値(PIf)、出力電圧値(VIf)
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        | 偏光測定 | 
        偏光プリズムを手動回転して取得 | 
       
      
        | 発光スペクトル | 
        分光システムによる測定 | 
       
     
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      ■仕様 | 
    
    
      
        
          
            | 項目 | 
            ナローパルス | 
            ワイドパルス | 
           
          
            | 最大駆動電流 | 
            1A | 
            1A | 
           
          
            | 設定分解能 | 
            0.1mA | 
            0.1mA | 
           
          
            | 最大出力電圧 | 
            30V | 
            30V | 
           
          
            | 駆動モード | 
            パルス | 
            CW/パルス | 
           
          
            | 駆動極性 | 
            片極性 | 
            片極性 | 
           
          
            | 駆動方式 | 
            定電圧 | 
            定電流 | 
           
          
            | パルス幅 | 
            50nsec 〜 10μsec | 
            1μsec 〜 1msec | 
           
          
            | パルス発生率 | 
            1% | 
            50% | 
           
         
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       ※本仕様および外観は改善のため予告無く変更することがあります。 | 
    
 ■レーザーダイオードバーについて |  
  | レーザーダイオードバー(LDバー)は、レーザーダイオードの製造工程において、ウエハー上に形成された複数の素子列を、直線状のバー形状に切り出した中間段階のデバイス形態です。最終的にはこのバーをチップ単位に分割し、個々の素子をCANパッケージなどに実装して製品化されます。 | 
  ■LDバー測定の目的と重要性 | 
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    レーザーダイオードバーは、パッケージング前の中間プロセスに位置する重要な形態であり、この段階での特性評価は、製品の品質管理および製造効率の観点から非常に重要です。
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    バー状の状態で各素子に対して電気的・光学的な特性を測定することで、歩留まりの向上、不良品の早期発見、製造プロセスの安定性向上など、様々なメリットがあります。
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    主な測定項目は以下の通りです:
    
      - 電流−電圧特性(I-V)
 
      - 光出力−電流特性(I-L)
 
      - しきい値電流、スロープ効率
 
      - 発光スペクトル(波長、帯域幅)
 
      - チップ間のバラツキ確認
 
     
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    特に自己発熱の影響を避けるために、測定には50ナノ秒といった極めて短いパルス幅による駆動が用いられ、これにより熱の影響を最小限に抑えつつ、素子本来の特性を高精度に評価することができます。
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    本測定を通じて得られた情報は、チップ選別や工程最適化だけでなく、最終製品の信頼性向上にも直結します。
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